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“日本AE·MIC品牌 AE-365E高精度电容测试仪”参数说明
| 元器件种类： | 电子元件测试仪 | 型号： | Ae-365e |
| 规格： | 电容测试仪 | 商标： | 日本ae·mic |
| 包装： | 纸箱 | 产量： | 1000 |
“日本AE·MIC品牌 AE-365E高精度电容测试仪”详细介绍
特点
■超高速：1 msec.［TYP］［计测中时间］
■对 2 pF/20 pF 范围 5 V 测量微小电容量的稳定性大幅提高
■测量值异常检知从2端子（4端子）测量时探针的接触不良查出
■4端子接触检查三种模式选择：测量前/测量后/OFF（不接触）■测量频率：1kHz/120Hz±0.1%（正弦波形）
■能切换串联等效电路/并联等效电路
■定电压测量（一部分的范围非对应）
■能 tanσ测量（2pF 范围非对应）
■3 1/2位（1999）数位显示、内建比较器功能、HI/GO/LO 输出■RS-232C 介面，印表机输出（符合 Centronics）做为标准配备
［GP-IB 选购］
■间歇输入测量电流以减轻探测接触的磨损（120μF/1.2mF范围）
■测量时可列印输出：测量值，σ，3σ，max，min，
日期，时间。。等数据
选购
■GP-IB 介面［［如果选择 GP-IB，则无法安装 RS-232C］
测量方式： 3/5端子测量方式［能每范围选择］
测量频率： 120Hz/1kHz±0.1%，正弦波形
测量信号输出电阻： 约 1Ω
杂散电容补正范围： 约 30pF
满量程及零温度系数： ±10ppm/℃以内
测试时间： 【空转周期】FAST：约 1～5次/秒 SLOW：FAS T×N（N：平均值设定回数）【测量中信号［FAST］】1msec.［最速时］
比较器设定范围： 电容：HI/LO 皆为 1999［120μF/1.2mF 范围 HI/LO 皆为199］tanδ：99.9%
使用周围环境： 温度：0℃～＋50℃湿度：85%以下
电源： AC 85V～265V，50～60Hz，约 50VA
外型尺寸： 3（W）x 99（H）x 30（D）mm（不包含外部突起物如垫脚等）
重量： 约 4kg
■超高速：1 msec.［TYP］［计测中时间］
■对 2 pF/20 pF 范围 5 V 测量微小电容量的稳定性大幅提高
■测量值异常检知从2端子（4端子）测量时探针的接触不良查出
■4端子接触检查三种模式选择：测量前/测量后/OFF（不接触）■测量频率：1kHz/120Hz±0.1%（正弦波形）
■能切换串联等效电路/并联等效电路
■定电压测量（一部分的范围非对应）
■能 tanσ测量（2pF 范围非对应）
■3 1/2位（1999）数位显示、内建比较器功能、HI/GO/LO 输出■RS-232C 介面，印表机输出（符合 Centronics）做为标准配备
［GP-IB 选购］
■间歇输入测量电流以减轻探测接触的磨损（120μF/1.2mF范围）
■测量时可列印输出：测量值，σ，3σ，max，min，
日期，时间。。等数据
选购
■GP-IB 介面［［如果选择 GP-IB，则无法安装 RS-232C］
测量方式： 3/5端子测量方式［能每范围选择］
测量频率： 120Hz/1kHz±0.1%，正弦波形
测量信号输出电阻： 约 1Ω
杂散电容补正范围： 约 30pF
满量程及零温度系数： ±10ppm/℃以内
测试时间： 【空转周期】FAST：约 1～5次/秒 SLOW：FAS T×N（N：平均值设定回数）【测量中信号［FAST］】1msec.［最速时］
比较器设定范围： 电容：HI/LO 皆为 1999［120μF/1.2mF 范围 HI/LO 皆为199］tanδ：99.9%
使用周围环境： 温度：0℃～＋50℃湿度：85%以下
电源： AC 85V～265V，50～60Hz，约 50VA
外型尺寸： 3（W）x 99（H）x 30（D）mm（不包含外部突起物如垫脚等）
重量： 约 4kg
